Aktivity v této oblasti využívají zařízení vlastní konstrukce, která umožňují:

• kalibraci teplotních snímačů pomocí sekundárního teplotního etalonu v rozsahu 1,4 K  – 100 K s přesností lepší než ± 16 mK,
• měření tepelné vodivosti materiálů a součástek v rozsahu teplot 10 K – 300 K. Menší vzorky do průměru 40 mm a délky 50 mm lze proměřovat v existujícím zařízení, pro větší vzorky je možné navrhnout a vyrobit speciální měřicí zařízení.