Ocenění

Radovan Smíšek získal ocenění IEEE za disertační práci

S potěšením oznamujeme, že dr. Radovan Smíšek, vědec skupiny Umělá inteligence a medicínské technologie, oddělení Medicínské signály, Ústavu přístrojové techniky AV ČR, byl oceněn Československou sekcí Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) za svou disertační práci. pokračování
Výzkum

Workshop „Kvantové počítání v Akademii věd 2025“ spojil špičky české vědy a technologických inovací

Workshop „Kvantové počítání v Akademii věd 2025“ přivedl dohromady přední české vědce, akademiky a technologické lídry, aby společně diskutovali o budoucnosti kvantových technologií v České republice. Akce proběhla v ÚPT AV ČR pod vedením prof. Josefa Lazara a nabídla platformu pro sdílení poznatků, navazování spolupráce a prezentaci prvních výsledků výzkumu na kvantových počítačích IBM. pokračování
Výzkum

Nano-mechanický zesilovač

Ve svém novém článku „Nanomechanical state amplifier based on optical inverted pendulum“ (Communications Physics, 2025) představujeme experimentálně ověřený protokol pro lineární zesílení mechanického stavu nanoobjektu prostřednictvím rychlého přepínání z parabolického na invertovaný parabolický potenciál a zpět. pokračování
AV21

Výstava Tajemství květního vývoje pod drobnohledem

Krása květů pod mikroskopem – výstava v Brně odhalí neviditelné detaily. Od 2. července do 25. srpna mohou návštěvníci Křížové chodby Nové radnice v Brně obdivovat unikátní snímky květních orgánů, které běžným zrakům i mikroskopům zůstávají skryté. pokračování
Výzkum

Pozvánka na workshop mikroskopie pro pedagogy

Ústav přístrojové techniky AV ČR a společnosti Specion, s.r.o. zvou pedagogy na výukový program "Mikroskopie do výuky – Zvětšeno pro učitele", zaměřený na optickou a elektronovou mikroskopii ve školní výuce. pokračování
Výzkum

„120 vteřin“ – vědecká minipřehlídka mikroskopických témat (29. 5. 2025)

ÚPT AV ČR prezentovala dr. Eliška Materna Mikmeková, vedoucí skupiny Mikroskopie a spektroskopie povrchů, svou prezentací na téma „Graphene for electron microscopy“. pokračování

Stránky