UPT- 156301
Mapování lokální krystalické struktury odrazem elektronů
Nové přístrojové prvky umožnily rozšířit režimy rastrovacího elektronového mikroskopu o snímání signálu elektronů odražených pod velkými úhly vůči normále povrchu vzorku, který dosud dostupné detektory nezachycovaly. Je známo, že s rostoucím úhlem odrazu roste obsah informace o lokální krystalické struktuře. Signál elektronů odražených pod velkými úhly tedy umožní zobrazení zrn v polykrystalických, zejména kovových materiálech, a měl by zviditelnit i rozložení vnitřního napětí v krystalu. Projekt se soustředí na simulaci množství a úhlového i energiového rozložení odražených elektronů v celé škále jejich energií a na experimentální zjištění téhož pro vybrané kovové materiály. Bude stanovena míra vlivu lokální krystalové struktury na charakteristiky odrazu elektronů, především pro nízké energie. Bude vypracována metoda zobrazování zrn v polykrystalu a porovnána s běžnou metodou EBSD. Metoda bude použita ke studiu struktury jemnozrnných kovů a zejména k mapování rozložení vnitřního napětí v silně deformovaném kovu a jeho relaxace za zvýšené teploty pro vybrané typy ocelí.
Řešitel:Frank Luděk Ústav přístrojové techniky - Akademie věd České republiky, v.v.i.
Agentura: GA ČR
Reg. č.: GAP108/11/2270
Trvání: 01:01:2011 - 31:12:2013